对使用同一CAD/CAM系统的不同扫描仪制作的冠/嵌体边缘和内部适合性的显微CT评价(土耳其)
目的:评估使用同一CAD/CAM系统的不同扫描仪数据制作的全瓷冠和嵌体的边缘和内部适合性。材料和方法:在上颌先进前磨牙牙体上进行全瓷冠预备,在下颌先进磨牙牙体上进行Ⅱ类洞(近中-𬌗)嵌体的预备。使用两台口内扫描仪(CEREC Bluecam和 Omnicam,登士柏西诺德公司)和一台模型扫描仪(CEREC inEos X5,登士柏西诺德公司)对预备体进行扫描。所有修复体均由单块的长石瓷块(CEREC Blocs)切削而成。通过显微CT(micro computed tomography,micro CT)分析评价修复体边缘和内部的差异。结果:对于冠的线性测量,Bluecam、Omnicam和inEos X5的边缘间隙分别为63.75 μm、88.24 μm和90.89 μm。在中央沟区,Bluecam、Omnicam和inEos X5的很大值分别为144.78 μm、165.19 μm和129.49 μm。对于嵌体的线性测量,Bluecam、Omnicam和inEos X5的轴-髓线角中点的很大范围分别为138.57 μm、184.33 μm和179.71 μm。在体积测量中,inEos X5显示冠(11.47 mm3)和嵌体(5.65 mm3)的间隙均低于两种口内扫描仪。这些结果在临床可接受的范围内。结论:在评价全瓷冠时,区域线性测量的扫描仪之间总体上没有统计学上的显著差异,但口内扫描仪获得的修复体存在更多的体积间隙(volumetric gap)。另外,对嵌体修复体进行评估时,除轴-髓线角中点和近中-龈缘中点外,各组间均存在显著差异。但冠和嵌体的边缘间隙和内部间隙在许多表面均呈现< 150 μm的均值,被认为是临床可接受的。